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簡(jiǎn)單介紹：
日本日置HIOKI 3453數(shù)字兆歐表，日本日置HIOKI 3453數(shù)字兆歐表高效率的絕緣，日本日置HIOKI 3453數(shù)字兆歐表測(cè)量單機(jī)帶有4種測(cè)試量程：125V/40MΩ，250V/2000MΩ，500V/2000MΩ和1000V/4000MΩ
詳情介紹：
日本日置HIOKI 3453數(shù)字兆歐表已經(jīng)停產(chǎn)，升級(jí)型號(hào)IR4057-20
數(shù)字兆歐表 3453絕緣/接地電阻/其他測(cè)試計(jì)(現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試儀器)
HIOKI 3453數(shù)字兆歐表高效率的絕緣測(cè)量
- 單機(jī)帶有4種測(cè)試量程：125V/40MΩ，250V/2000MΩ，500V/2000MΩ和1000V/4000MΩ
- **的數(shù)字顯示
- 可視可聽(tīng)的絕緣測(cè)量
- 可記憶20個(gè)點(diǎn)的資料
- 可測(cè)試多種阻抗
- 能夠測(cè)量AC電壓及低電阻(導(dǎo)通)
HIOKI 3453數(shù)字兆歐表基本參數(shù)
| 125 V 測(cè)試量程 |
125 V DC ((測(cè)試電壓), 4.000 M-Ω ～ 40.00 M-Ω (測(cè)量量程), **有效測(cè)量量程 ±2 % rdg. ±3 dgt. at 0.100 ～ 10.00 M-ohm |
| 250 V 測(cè)試量程 |
250 V DC ((測(cè)試電壓), 4.000 M-Ω ～ 2000 M-Ω (測(cè)量量程), **有效測(cè)量量程 ±2 % rdg. ±3 dgt. at 0.200 ～ 20.00 M-ohm |
| 500 V 測(cè)試量程 |
500 V DC ((測(cè)試電壓), 4.000 M-Ω ～ 2000 M-Ω (測(cè)量量程), **有效測(cè)量量程 ±2 % rdg. ±3 dgt. at 0.200 ～ 50.00 M-ohm |
| 1000 V 測(cè)試量程 |
1000 V DC ((測(cè)試電壓), 4.000 M-Ω ～ 4000 M-Ω (測(cè)量量程), **有效測(cè)量量程 ±2 % rdg. ±3 dgt. at 0.200 ～ 999 M-ohm |
| 低阻(導(dǎo)通) | 在0～400.0Ω時(shí)±2%rdg.±8dgt.開(kāi)路端電壓：*大4V |
| AC電壓量程和精度 | 在0～600V，50 /60Hz時(shí)為±3%rdg.±8dgt.輸入電阻：170kΩ |
| 功能 | 絕緣電阻模式：比較，記憶（20組），測(cè)量值保持，自動(dòng)放電，柱形圖顯示，（測(cè)量開(kāi)關(guān)ON:絕緣電阻， 測(cè)量開(kāi)關(guān)OFF：電壓通過(guò)測(cè)量端），測(cè)量開(kāi)始后1分鐘自動(dòng)顯示測(cè)量值，所有測(cè)量模式：活線警報(bào)，電池顯示，自動(dòng)省電 |
| 顯示 | 數(shù)位/4000dgt.,LCD柱形圖/42seg,搭配背光 |
| 電源供應(yīng) | R6P(AA)×4或LR6(AA)×4 |
| 體積及重量 | 155 mmW × 98 mm)H × 80 mmD, 500 g |
| HIOKI 3453數(shù)字兆歐表附件 | 測(cè)試探頭 9294（1），顯示罩（1），背帶（1） |